기술수준 평가에 관한 실증적 연구

Abstract

급속히 변화되고 있는 기술환경에서 세계 각국은 과학과 기술의 국가경쟁력을 제고시키기 위해 정책을 수립하고 예산을 투입하고 있으며, 특히 투자효율을 높이는 정책을 추진하고 있다. 또한, 세계 각국에서 기술혁신의 중요성이 증대됨에 따라 체계적인 R&D 투자의 중요성이 커지고 있다. 이에 따라 사전적인 기술기획의 필요성이 더욱 강조되고 있다. 사전적인 기술기획으로는 기술수요조사, 기술로드맵, 기술수준평가, 기수예측조사 등이 있다. 근래에 사전적인 기술기획 수립시 기술수준평가를 활용하는 빈도가 점차 증가하고 있다. 대부분의 기술수준평가는 델파이(전문가) 조사에 의한 정성적인 방법을 활용하고 있으나, 정성적인 신뢰성을 향상시키기 위하여 특정 기술분야를 대상으로 복수의 특허지표를 활용한 복합 기술수준평가모형이 도입 연구되고 있다. 본 연구는 선행연구의 특허기술수준 복합평가모형의 독립변수, 특허활동도, 특허집중도, 특허시장력, 특허경쟁력 및 특허영향력의 다중공선성을 제거하고, 신규의 3개의 신규 특허기술수준 복합평가모형과 선행연구의 특허기술수준 복합평가모형의 평가결과와 전문가 델파이 조사에 의한 기술수준 평가결과 사이에 차이가 있는지 규명하는 연구를 하였다.

이에 본 연구에서는 선행연구의 특허기술수준 복합평가모형의 특허지표들 간에 다중공선성을 제거하기 위해 상관분석을 실시한 결과 특허지표들 중 1) 특허활동도와 특허집중도 2) 특허시장력과 특허경쟁력, 3) 특허경쟁력과 미국등록특허간에 중복성이 있었으며, 전문가 델파이 조사 모형과 신규 모형2=특허활동도+(삼극특허수 X 영향력지수)간에 유의미한 차이가 나타났다. 본 연구를 통해 기존의 특허기술수준 복합평가모형을 구성하고 있는 특허지표들간에 다중공선성이 있음을 확인하였고, 다중 공선성을 제거한 신규 특허기술수준 복합평가모형이 전문가 모형과 유의미한 차이가 나타나, 향후 특허기술수준 복합평가모형을 활용하여 다양한 정책 및 기획을 수행할 때 보다 객관성 및 신뢰성을 확보할 수 있을 것으로 기대된다.